LP-JX2008 硅半导体电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和 轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

产品特点

1 仪器采用 220V 交流电源供电。

2 同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。

3 拥有较高的电阻率测试分辨率，最小可到0.001 欧姆.厘米。 4 能精确的分辨电阻率在0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。

5 独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。

6 适中的体积和便携性。

7 简单的操作，快速的测试。

8 低廉的价格，很高的性价比。

参数指标

1 供电电源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主机尺寸 155×120×50mm

2 电阻率测试范围 0.001~50 欧姆.厘米 3 电阻率测试精度 ±5%±2LSB