SD-800四探针面电阻测试仪根据四探针接触式原理测量导电膜层的面电阻。专用于大面积平板镀膜测量。可用于测量导电膜层的面电阻(方块电阻), 探针直径大，针头光滑，能伸缩，不易划伤膜层。仪器有多个量程范围可自动选择，以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据，校准数据和测量结果自动存储。

测量对象：
Low-E导电镀膜玻璃
TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃
透明导电薄膜材料
人工合成金属片及导电纸
其他导电材料

技术指标：