LP-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

特点：

主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，最大分类10类。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

探头选配：

根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。

 配ST2553-F01探头测硅片

配ST2558B-F01测ITO膜

基本技术参数：

1. 测量范围、分辨率（可向下拓展1～3个数量级，括号内为向下拓展3个数量级）

     电    阻：1.0×10^-3 ～ 200.0×10⁵  Ω,    分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10⁴  Ω

                （1.0×10^-6 ～ 200.0×10²  Ω,    分辨率0.1×10^-6 ～ 0.1×10² Ω）

     电 阻 率：1.0×10^-3 ～ 200.0×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω-cm

                （1.0×10^-6 ～ 200.0×10¹ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.1×10¹  Ω-cm）

     方块电阻：5.0×10^-3 ～ 100.0×10⁴ Ω/□  分辨率0.5×10^-3 ～ 0.1×10³  Ω/□

                （5.0×10^-6 ～ 100.0×10¹ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10¹  Ω/□）

2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

   直    径： SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限

   SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.

   长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

   测量方位:  轴向、径向均可

3. 量程划分及误差等级

4) 工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W

5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm

      净   重：≤1.5～2.0kg

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。