LP-JB4060型多功能射线检测仪，适用于α，β 辐射表面污染检测，同时也适用与 γ、X 辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医

学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行 α，β 辐射表面污染检测或 X，γ 辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD 液晶显示，读数清晰、操作方便。

特点：

进口高效率盖革云母窗探测器，探测效率高

单片机控制，软件功能强

LCD 液晶显示，会话式操作界面

嵌入式操作系统，运行速度更快

128×96 分辨率，点阵液晶显示器屏幕亮度、清晰度更高

5000组报警数据存储

便携式设计，外观具有亲和力，材质更轻

可区分β 和γ 射线

技术指标：

测量范围：1～99999

 0.01μ Sv/h-1000μ Sv/h

 显示单位：Bq/cm2、CPM、μ Sv/h、μ Gy/h

 能量阈： 5keV

 能量响应：≥60 keV 不超过±25%（对于 137Cs 归一）

 灵 敏 度：α 表面活度响应>3s-1Bq-1cm2

β 表面活度响应>3s-1Bq-1cm2

 仪器本底：平均每分钟计数≤70CPM(60秒测量)

 探测面积：19.6cm2

 相对固有误差：≤20%

 重复性： 不超过 10%

 供电电源： 3 节普通 5 号电池，整机电流≤50mA

 温度： -20℃～50℃

 湿度： 不超过 95%RH

 重量: 整机约 1200g(带探测器)

 尺寸: （主机）长 19cm×宽 9.5cm×高 9.8cm；

（探测器）Φ 74、长 20cm