特色：

·<独创的技术>

   可替换的两种测试原理的手持式探头

    (1)非接触式探头（涡电流测试法）

    (2)四探针探头（四探针测试法）

·探头触碰到样品时就会自动开始测量

·可以长达24小时的操作时间

·最多可以储存100组数据

·可通过USB-MINI将数据导出

·数据显示4位数的浮动小数点

技术规格：

测试范围&精度

*重复性：NAPSON标准片的测量重复性(CV=STDEVP/AVG×100%)

*精度：NAPSON标准电阻的测试精度

尺寸和电源：

<尺寸>主机：W80(100) ×D210 ×H36 mm, approx.350g，{*并不含电池重量在其中}

      非接触式探头：W70(φ50) ×D20(φ50) ×H70 mm, approx.170g
      四探针探头：W40 ×D15 x H50 mm, approx.85g
<电源>AC100~240V, 50/60Hz, DC9V 1A

应用：

·任意样品只要在测量范围内都可以进行测量

（如薄膜、玻璃、纸张等）

·导电薄膜（ITO、TCO等）

·LOW-E玻璃

·纳米碳管、石墨烯材料

·金属材质（纳米银线、金属网络、金属薄膜）

·其他

配置：

主机、四探针探头、非接触式探头、标准电阻(用于校准四探针探头/非接触式探头,各一片)、充电器

接触式探头，探头测试面积：3mm

无损探头，探头测试面积：25mm

测试功能的切换十分方便